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基礎信息Product information
產品名稱：方阻儀/方塊電阻測試儀/電阻率/電導率儀
產品型號：
更新時間：2025-10-10
產品簡介：
方阻儀/方塊電阻測試儀/電阻率/電導率儀應用領域覆蓋膜、導電高分子膜、高低溫電熱膜；隔熱、導電窗膜、導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙、金屬化標簽、合金類箔膜；熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層、電阻式、電容式觸屏薄膜、電極涂料；其他半導體材料、薄膜材料、硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻；半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件、導電薄膜（ITO導電膜玻璃等）
產品特性Product characteristics
“精"——上海市先JIN企業!
“專"——專注工業測試十六年!
“特"——德國萊茵TUV認證供應商!
“新"——注冊資本實繳壹仟萬元!實繳資金行業中居前茅!抗金融風險能力強!
一、方阻儀/方塊電阻測試儀/電阻率/電導率儀應用領域
覆蓋膜、導電高分子膜、高低溫電熱膜；隔熱、導電窗膜、導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙、金屬化標簽、合金類箔膜；熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層、電阻式、電容式觸屏薄膜、電極涂料；其他半導體材料、薄膜材料、硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻；半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件、導電薄膜（ITO導電膜玻璃等）、金屬膜、導電漆膜、蒸發鋁膜、PCB銅箔膜、EMI涂層等薄層電阻與電阻率；導電性油漆、導電性糊狀物、導電性塑料、導電性橡膠、導電性薄膜、金屬薄膜、EMI防護材料、導電性纖維、導電性陶瓷等方阻測試。
二、產品描述
采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償。高集成電路系統、恒流輸出；PC軟件進行數據管理和處理。
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方型四探針雙位測量。儀器設計參考國標單晶硅物理測試方法及ASTM標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。
三、儀器特性
1.電阻測量范圍0.1uΩ～10MΩ即10-7～1×107Ω（JR3545最大1000MΩ）
2.電阻率測量范圍0.1uΩ～10MΩ.cm即10-7～1×107Ω.cm（JR3545最大1000MΩ）
3.方塊電阻測量范圍1uΩ～1MΩ/□即10-6～2×106Ω/□（JR3545最大100MΩ）
4.電阻精度0.01%，最小分辨率0.1uΩ
5.方阻精度2%，最小分辨率1uΩ
6.雙電測原理，提?精度和穩定性
7.測試探頭直排和矩形可選
8.標配RS232、LAN通訊接口
9.搭配軟件可查看和記錄測試數據
四、儀器應用
使?開爾?測試夾直接測試電阻器直流電阻
使?四探針治具測試?狀或塊狀半導體材料、?屬涂層以及導電薄膜等材料的?阻和電阻率
五、方阻儀/方塊電阻測試儀/電阻率/電導率儀指標參數規格
型號 | JR3545 | JR3542 |
屏幕顯示 | 3.5英寸TFT-LCD | |
測試參數 | 電阻：R，?阻：Rsq、電阻率：RY、電導率：CY | |
測試?式 | 單電測、雙電測 | |
最小分辨率 | 0.01μΩ | 0.1μΩ |
測試電流 | DC 1A~1μA | DC 1A-0.5μA |
測量精度 | 電阻：0.01%，?阻：2% | |
測試速度 | 快速2.2ms，中速21ms，慢速1(102ms)，慢速2(202ms) | |
測試量程 | 10mΩ/100mΩ/1000mΩ/10Ω/100Ω/1000Ω/ 10kΩ/100kΩ/1000kΩ/10MΩ/100ΜΩ/1000ΜΩ | 20mΩ/200mΩ/2000mΩ/20Ω/200Ω/ 2000Ω/20kΩ/200kΩ/2000ΚΩ/10ΜΩ |
信號源 | 恒流DC 100mA~1A | |
溫度測量 | 范圍-10℃~60℃；精度±1℃ | |
校正 | 全量程內短路清零 | |
比較器 | 10檔分選；實現HIGH/IN/LOW分選 | |
數據保存 | 搭配電腦軟件記錄測試數據 | |
觸發器 | 內部觸發，外部觸發 | |
接口 | 外部I/O接口，LAN接口，RS232接口 | |
電源 | 電壓100VAC~240VAC；AC頻率50Hz~60Hz；額定功率40VA | |
尺寸與重量 | 325mm*215mm*96mm；重量2kg | |
附件 | 四探針測試夾具、電源線 | |
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